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四探針(zhen)電(dian)(dian)阻率測(ce)(ce)試儀測(ce)(ce)粉末測(ce)(ce)試方法(fa)1、密(mi)(mi)碼保(bao)護：登入測(ce)(ce)試頁面(mian)，需要(yao)輸入密(mi)(mi)碼，保(bao)證非專業技術人員進(jin)行操作 2、測(ce)(ce)量(liang)(liang)模(mo)式：手動(dong)測(ce)(ce)量(liang)(liang) 自(zi)動(dong)測(ce)(ce)量(liang)(liang) 3、取值時(shi)間(jian)：在(zai)自(zi)動(dong)測(ce)(ce)量(liang)(liang)模(mo)式下(xia)，取值時(shi)間(jian)可以(yi)自(zi)由設定 4、校準模(mo)式：具有(you)自(zi)動(dong)校準功能(neng)(neng)，能(neng)(neng)夠對電(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)流進(jin)行自(zi)動(dong)校準 5、顯示數據：能(neng)(neng)夠實時(shi)顯示測(ce)(ce)試電(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)路、電(dian)(dian)阻值、電(dian)(dian)阻率數值 6、數據打印(yin)：可以(yi)對測(ce)(ce)試的數據進(jin)行打印(yin) 7、軟(ruan)件通訊：能(neng)(neng)夠配有(you)上(shang)位機軟(ruan)件，通過

FTDZS四探(tan)針(zhen)電(dian)阻率試驗檢測(ce)(ce)儀：登入測(ce)(ce)試頁(ye)面(mian)，需要輸(shu)入密碼，保證非專業技術人(ren)員進行操作 2、測(ce)(ce)量模式(shi)：手動(dong)測(ce)(ce)量 自(zi)動(dong)測(ce)(ce)量 3、取(qu)值(zhi)時間：在自(zi)動(dong)測(ce)(ce)量模式(shi)下，取(qu)值(zhi)時間可以自(zi)由設定 4、校(xiao)準模式(shi)：具有自(zi)動(dong)校(xiao)準功(gong)能，能夠(gou)(gou)對(dui)電(dian)壓、電(dian)流進行自(zi)動(dong)校(xiao)準 5、顯(xian)示數(shu)(shu)據(ju)：能夠(gou)(gou)實(shi)時顯(xian)示測(ce)(ce)試電(dian)壓、電(dian)路、電(dian)阻值(zhi)、電(dian)阻率數(shu)(shu)值(zhi) 6、數(shu)(shu)據(ju)打印：可以對(dui)測(ce)(ce)

FTDZS四探針(zhen)電(dian)阻率(lv)測(ce)(ce)試儀粉末測(ce)(ce)定：登入(ru)測(ce)(ce)試頁(ye)面，需要(yao)輸入(ru)密碼，保證非專業技術人員進(jin)行(xing)操作 2、測(ce)(ce)量模式(shi)：手(shou)動(dong)(dong)測(ce)(ce)量 自(zi)動(dong)(dong)測(ce)(ce)量 3、取(qu)值時(shi)間(jian)：在自(zi)動(dong)(dong)測(ce)(ce)量模式(shi)下，取(qu)值時(shi)間(jian)可以自(zi)由設定 4、校(xiao)準模式(shi)：具(ju)有自(zi)動(dong)(dong)校(xiao)準功能(neng)，能(neng)夠(gou)對電(dian)壓、電(dian)流進(jin)行(xing)自(zi)動(dong)(dong)校(xiao)準 5、顯示(shi)數(shu)據：能(neng)夠(gou)實(shi)時(shi)顯示(shi)測(ce)(ce)試電(dian)壓、電(dian)路(lu)、電(dian)阻值、電(dian)阻率(lv)數(shu)值 6、數(shu)據打印：可以對測(ce)(ce)

雙四探針粉末電(dian)(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)(ce)(ce)定方法(fa)測(ce)(ce)(ce)定方法(fa)保證非(fei)專業技術人員進行操作 2、測(ce)(ce)(ce)量模(mo)(mo)式：手(shou)動測(ce)(ce)(ce)量 自(zi)動測(ce)(ce)(ce)量 3、取(qu)值時(shi)間：在自(zi)動測(ce)(ce)(ce)量模(mo)(mo)式下，取(qu)值時(shi)間可(ke)以(yi)自(zi)由設定 4、校(xiao)準(zhun)模(mo)(mo)式：具有自(zi)動校(xiao)準(zhun)功能(neng)(neng)(neng)，能(neng)(neng)(neng)夠對電(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)流進行自(zi)動校(xiao)準(zhun) 5、顯(xian)(xian)示數據：能(neng)(neng)(neng)夠實時(shi)顯(xian)(xian)示測(ce)(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)路、電(dian)(dian)阻(zu)值、電(dian)(dian)阻(zu)率(lv)數值 6、數據打印：可(ke)以(yi)對測(ce)(ce)(ce)

四探(tan)針半導體(ti)粉末電(dian)(dian)阻(zu)率測(ce)試儀，保證非(fei)專業技術人員進行(xing)(xing)操作 2、測(ce)量模式：手動(dong)(dong)測(ce)量 自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)測(ce)量 3、取(qu)值時(shi)(shi)間：在自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)測(ce)量模式下，取(qu)值時(shi)(shi)間可以自(zi)(zi)(zi)由設定(ding) 4、校(xiao)準(zhun)模式：具有自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)校(xiao)準(zhun)功(gong)能，能夠(gou)對(dui)電(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)流(liu)進行(xing)(xing)自(zi)(zi)(zi)動(dong)(dong)校(xiao)準(zhun) 5、顯示(shi)數(shu)(shu)據：能夠(gou)實時(shi)(shi)顯示(shi)測(ce)試電(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)路、電(dian)(dian)阻(zu)值、電(dian)(dian)阻(zu)率數(shu)(shu)值 6、數(shu)(shu)據打印：可以對(dui)測(ce)